Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Wang, Zhong Lin
Redactie:	Wang, Zhong Lin
Titel:	Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781441922090
Editie:	Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 159,71
Verschijningsdatum:	12-02-2010
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Electronic devices & materials
Geillustreerd:	399 Illustrations, black and white; XIV, 522 p. 399 illus.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	522
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155
Gewicht gr.:	813

 

Inhoud:

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.