Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Jian Cheng Zhang; Styblinski
Titel:	Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Uitgever:	Springer
ISBN:	9780792395515
Editie:	1995 ed.
Land van oorsprong:	Netherlands
Prijs:	€ 173.02
Verschijningsdatum:	01-02-1995
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Postgraduate, Research & Scholarly
Categorie:	Electronic devices & materials
Geillustreerd:	XVII, 234 p.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	234
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155
Gewicht gr.:	1200

 

Inhoud:

Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications.