Hoofdkenmerken
Auteur:
Butler, Kenneth M.; Mercer
Titel:
Assessing Fault Model and Test Quality
Uitgever:
Springer
ISBN:
9780792392224
Serie:
The Springer International
Editie:
1992 ed.
Land van oorsprong:
Netherlands
Prijs:
€ 167.71
Verschijningsdatum:
31-10-1991
Bericht:
Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau:
Postgraduate, Research & Scholarly
Categorie:
Computer science
Geillustreerd:
XIX, 132 p.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm:
Hardback
Paginas:
132
Hoogte mm.:
235
Breedte mm.:
155
Gewicht gr.:
880
Inhoud: For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.
nl
en
