Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Simpson, William R.;
Titel:	System Test and Diagnosis
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781461361633
Editie:	Softcover reprint of the original 1st ed. 1994
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 173.02
Verschijningsdatum:	31-08-1994
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Circuits & components
Geillustreerd:	XVI, 382 p.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	382
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155
Gewicht gr.:	611

 

Inhoud:

System Test and Diagnosis is the first book on test and diagnosis at the system level, defined as any aggregation of related elements that together form an entity of sufficient complexity for which it is impractical to treat all of the elements at the lowest level of detail.