Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Andrews, Sherry S.
Titel:	Process-aware Sram Design and Test Cmos Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies
Uitgever:	Van Ditmar Boekenimport B.V.
ISBN:	9781505401394
Editie:	1. ed
Verschijningsdatum:	01-01-2014
Bericht:	Tijdelijk niet leverbaar - in herdruk

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Exacte-/natuurwetenschap alg.
Taal:	Engels
Imprint:	Createspace Independent Pub

Technische kenmerken

Paginas:

126