Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Simon, David S.; Jaeger
Titel:	Quantum Metrology, Imaging, and Communication
Uitgever:	Springer International
ISBN:	9783319465494
ISBN boekversie:	9783319465517
Serie:	Quantum Science and Technology
Editie:	1st ed. 2017
Land van oorsprong:	Switzerland
Prijs:	€ 193.69
Verschijningsdatum:	08-12-2016
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Materials science
Geillustreerd:	68 Illustrations, color; 37 Illustrations, black and white

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	273
Hoogte mm.:	164
Breedte mm.:	242
Dikte mm.:	21
Gewicht gr.:	620

 

Inhoud:

This book describes the experimental and theoretical bases for the development of specifically quantum-mechanical approaches to metrology, imaging, and communication. The particular techniques explored include two-photon interferometry, two-photon optical aberration and dispersion cancellation, lithography, microscopy, and cryptography.