Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Goldstein, Joseph; Newbury
Titel:	Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Third Edition
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781461349693
ISBN boekversie:	9781461502159
Editie:	3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 93,16
Verschijningsdatum:	31-05-2013
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Testing of materials
Geillustreerd:	XIX, 689 p.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	689
Hoogte mm.:	182
Breedte mm.:	255
Dikte mm.:	43
Gewicht gr.:	1310

 

Inhoud:

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.