Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Chai, Yi; Li, Shangfu
Titel:	Intelligent Testing, Control and Decision-making for Space Launch
Uitgever:	John Wiley & Sons Inc
ISBN:	9781118889985
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 184,08
Verschijningsdatum:	30-10-2015
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:

Electronics & communications engineering

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	330
Hoogte mm.:	252
Breedte mm.:	175
Dikte mm.:	20
Gewicht gr.:	590