Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Boyd, Sarah B.
Titel:	Life-Cycle Assessment of Semiconductors
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781489992239
Editie:	2012 ed.
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 119,78
Verschijningsdatum:	17-09-2014
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Semi-conductors & super-conductors
Geillustreerd:	XXVII, 226 p.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	226
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155
Gewicht gr.:	397

 

Inhoud:

Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices.