Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Miller, Michael K.
Titel:	Atom Probe Tomography Analysis at the Atomic Level
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781461369219
Editie:	Softcover reprint of the original 1st ed. 2000
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 159.71
Verschijningsdatum:	28-10-2012
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Testing of materials
Geillustreerd:	XV, 239 p.
Dewey code:	620.11

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	239
Hoogte mm.:	244
Breedte mm.:	170
Gewicht gr.:	462

 

Inhoud:

The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution.