Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Boyd, Sarah B.
Titel:	Life-Cycle Assessment of Semiconductors
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781441999870
Editie:	2012
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 159,71
Verschijningsdatum:	11-03-2011
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Semi-conductors & super-conductors
Geillustreerd:	XXVII, 226 p.
Dewey code:	004.16

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	226
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155
Gewicht gr.:	553

 

Inhoud:

Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices.