Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Joy, David C.
Titel:	Helium Ion Microscopy Principles and Applications
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781461486596
ISBN boekversie:	9781461486602
Serie:	SpringerBriefs in Materials
Editie:	2013 ed.
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 66.54
Verschijningsdatum:	14-09-2013
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Testing of materials
Geillustreerd:	2 Tables, black and white; 16 Illustrations, color; 13 Illustrations, black and white; VIII, 64 p. 29 illus., 16 illus. in color.
Dewey code:	620.11

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	64
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155
Gewicht gr.:	1372

 

Inhoud:

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century.