Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Fung, Adrian K.
Titel:	Microwave Scattering and Emission Models and Applications
Uitgever:	Artech House Publishers
ISBN:	9780890065235
Serie:	Remote Sensing Library
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 123,78
Verschijningsdatum:	28-02-1994
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Postgraduate, Research & Scholarly
Categorie:	Neural networks & fuzzy systems
Geillustreerd:	black & white illustrations
Dewey code:	621.3848

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	592
Hoogte mm.:	162
Breedte mm.:	237
Dikte mm.:	45
Gewicht gr.:	1044

 

Inhoud:

This reference provides a surface scattering model covering the entire frequency axis. It includes extensive model behaviours and case studies and demonstrates the effectiveness of combining the models and neural networks to classify and retrieve terrain and rough surface parameters.