Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Williams, David B.
Redactie:	Williams, David B.
Titel:	Transmission Electron Microscopy The Companion Volume
Uitgever:	Springer International
ISBN:	9783031807886
Editie:	Second Edition 2026
Land van oorsprong:	Switzerland
Prijs:	€ 149.99
Verschijningsdatum:	04-07-2026
Bericht:	Nog niet verschenen

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Testing of materials
Geillustreerd:	330 Illustrations, color; 185 Illustrations, black and white

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	809
Hoogte mm.:	279
Breedte mm.:	210

 

Inhoud:

This volume is the second edition of Transmission Electron Microscopy: Diffraction, Imaging, and Spectrometry building upon the foundation of the first edition while significantly expanding and updating its scope.