Nederlands
  nl
English
  en
contact veelgestelde vragen
SMB
 
Ion Beam Analysis
Hoofdkenmerken
Auteur: Michael Nastasi; James W. Mayer; Yongqiang Wang
Titel: Ion Beam Analysis
Uitgever: Taylor & Francis
ISBN: 9781040178898
ISBN boekversie: 9780367445843
Editie: 1
Prijs: € 92.31
Verschijningsdatum: 27-08-2014
Inhoudelijke kenmerken
Categorie: Nuclear
Taal: English
Imprint: CRC Press
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: E-book
 

Inhoudsopgave:

Ion Beam Analysis: Fundamentals and Applications explains the basic characteristics of ion beams as applied to the analysis of materials, as well as ion beam analysis (IBA) of art/archaeological objects. It focuses on the fundamentals and applications of ion beam methods of materials characterization.The book explains how ions interact with solids
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
Welkom bij Smartbooks