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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Hoofdkenmerken
Auteur: Peter Baumann
Titel: Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Uitgever: Springer Nature
ISBN: 9783658265748
ISBN boekversie: 9783658265731
Editie: 2
Prijs: € 25,77
Verschijningsdatum: 13-11-2019
Inhoudelijke kenmerken
Categorie: General
Taal: German
Imprint: Springer Vieweg
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: E-book
 

Inhoudsopgave:

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
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