Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Du, Xiong; Zhang, Jun
Titel:	Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Uitgever:	Springer Verlag, Singapore
ISBN:	9789811931345
Serie:	CPSS Power Electronics Series
Editie:	2022 ed.
Land van oorsprong:	Singapore
Prijs:	€ 188,49
Verschijningsdatum:	09-07-2023
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Circuits & components
Geillustreerd:	94 Illustrations, color; 27 Illustrations, black and white; XVI, 172 p. 121 illus., 94 illus. in color.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	172
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155

 

Inhoud:

This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management.