Hoofdkenmerken
Auteur:
Du, Xiong; Zhang, Jun
Titel:
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Uitgever:
Springer Verlag, Singapore
ISBN:
9789811931314
ISBN boekversie:
9789811931321
Serie:
CPSS Power Electronics Series
Editie:
2022 ed.
Land van oorsprong:
Singapore
Prijs:
€ 188.49
Verschijningsdatum:
09-07-2022
Bericht:
Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Categorie:
Circuits & components
Geillustreerd:
94 Illustrations, color; 27 Illustrations, black and white; XVI, 172 p. 121 illus., 94 illus. in color.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm:
Hardback
Paginas:
172
Hoogte mm.:
235
Breedte mm.:
155
Inhoud: This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management.
nl
en