Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Gao, Wei; Shimizu, Yuki
Titel:	Optical Metrology for Precision Engineering
Uitgever:	De Gruyter
ISBN:	9783110541090
ISBN boekversie:	9783110542363
Land van oorsprong:	Germany
Prijs:	€ 204.88
Verschijningsdatum:	06-12-2021
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Production engineering
Geillustreerd:	85 Illustrations, color; 50 Tables, black and white; 629 Illustrations, black and white

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	655
Hoogte mm.:	240
Breedte mm.:	170
Gewicht gr.:	1188