Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Gao, Wei
Titel:	Surface Metrology for Micro- and Nanofabrication
Uitgever:	Elsevier Science Publishing Co
ISBN:	9780128178508
ISBN boekversie:	9780128178515
Serie:	Micro & Nano Technologies
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 249,40
Verschijningsdatum:	21-10-2020
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:

Materials science

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	448
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	191
Gewicht gr.:	910