Hoofdkenmerken
Auteur:
Baumann, Peter
Titel:
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Simulation mit PSPICE
Uitgever:
Springer Fachmedien Wiesbaden
ISBN:
9783658265731
Vervangend ISBN:
9783658409562
ISBN boekversie:
9783658265748
Editie:
2., erw. Aufl. 2019
Land van oorsprong:
Germany
Prijs:
€ 33.24
Verschijningsdatum:
26-11-2019
Bericht:
Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau:
General (US: Trade)
Categorie:
Microwave technology
Taal:
German
Geillustreerd:
194 Illustrations, black and white; XI, 187 S. 194 Abb.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm:
Paperback / softback
Paginas:
187
Hoogte mm.:
240
Breedte mm.:
168
Dikte mm.:
11
Gewicht gr.:
454
Inhoud: Erganzend zu Vorlesung, zu Rechenubungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewahlter Halbleiterbauelemente vorgestellt.
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