Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Nastasi, Michael; Mayer
Titel:	Ion Beam Analysis Fundamentals and Applications
Uitgever:	Taylor & Francis Ltd
ISBN:	9780367445843
ISBN boekversie:	9781040178898
Land van oorsprong:	United Kingdom
Prijs:	€ 101.31
Verschijningsdatum:	25-11-2019
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:

Materials science

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	472
Hoogte mm.:	155
Breedte mm.:	233
Dikte mm.:	32
Gewicht gr.:	714

 

Inhoud:

This book explains the basic characteristics of ion beams as applied to the analysis of materials, as well as IBA of art/archaeological objects. It focuses on the fundamentals and applications of ion beam methods of materials characterization. It starts with coverage of the fundamentals of ion beam analysis, including kinematics, ion stopping, R