Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Chapple, Mike; Seidl, David
Titel:	CompTIA PenTest+ Certification Kit Exam PT0-001
Uitgever:	John Wiley & Sons Inc
ISBN:	9781119633563
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 86.52
Verschijningsdatum:	17-09-2019
Bericht:	Leverbaar

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Education

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	960
Hoogte mm.:	196
Breedte mm.:	242
Dikte mm.:	54
Gewicht gr.:	1662