Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Williams, David B.
Redactie:	Williams, David B.
Titel:	Transmission Electron Microscopy Diffraction, Imaging, and Spectrometry
Uitgever:	Springer International
ISBN:	9783319799889
Editie:	Softcover reprint of the original 1st ed. 2016
Land van oorsprong:	Switzerland
Prijs:	€ 104,29
Verschijningsdatum:	12-06-2018
Bericht:	Tijdelijk niet leverbaar - levertijd onbekend

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Testing of materials
Geillustreerd:	300 Illustrations, black and white

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	518
Hoogte mm.:	213
Breedte mm.:	281
Dikte mm.:	34
Gewicht gr.:	1448