Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Hebbar, K. Ramakanth
Titel:	Basics of X-Ray Diffraction and its Applications
Uitgever:	I K International Publishing
ISBN:	9789381141540
Serie:	276 pages
Prijs:	€ 33,94
Verschijningsdatum:	30-12-2011
Bericht:	Tijdelijk niet leverbaar - levertijd onbekend

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Tertiary Education (US: College)
Categorie:	Physics

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	276

 

Inhoud:

Starting with the history of the discovery of X-rays by Roentgen and the subsequent formalization of diffraction laws by Von Laue, Bragg and others, this text covers the fundamentals of crystallography and the theory of X-ray generation.

 

Inhoudsopgave:

India