Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	ASM International
Titel:	ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis
Uitgever:	A S M International
ISBN:	9781627081504
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 198,77
Verschijningsdatum:	30-01-2018
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:

Electronics engineering

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	660
Hoogte mm.:	229
Breedte mm.:	152

 

Inhoud:

The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.