Hoofdkenmerken
Auteur:
Gray, Kirk A.; Paschkewitz
Titel:
Next Generation HALT and HASS Robust Design of Electronics and Systems
Uitgever:
John Wiley & Sons Inc
ISBN:
9781118700235
ISBN boekversie:
9781118700211
Serie:
Quality and Reliability Engineering Series
Land van oorsprong:
United States
Prijs:
€ 113.91
Verschijningsdatum:
13-05-2016
Bericht:
Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Technische kenmerken
Verschijningsvorm:
Hardback
Paginas:
296
Hoogte mm.:
161
Breedte mm.:
236
Dikte mm.:
19
Gewicht gr.:
554
Inhoud: Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.
nl
en
