Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Gao, Wei
Redactie:	Gao, Wei
Titel:	7th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies Optical Test and Measurement T
Uitgever:	SPIE Press
ISBN:	9781628413571
Serie:	Proceedings of SPIE
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 226.27
Verschijningsdatum:	30-11-2014
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Postgraduate, Research & Scholarly
Categorie:	Applied optics

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	844
Hoogte mm.:	229
Breedte mm.:	152

 

Inhoud:

Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.