Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Hubbard, Camden R.
Titel:	Advances in X-Ray Analysis Volume 26
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781461337294
Editie:	Softcover reprint of the original 1st ed. 1982
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 73.19
Verschijningsdatum:	12-10-2011
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Atomic & molecular physics
Geillustreerd:	492 p.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	492
Hoogte mm.:	244
Breedte mm.:	170
Gewicht gr.:	848

 

Inhoud:

At the Denver X-Ray Conference, the topic for the plenary lectures alternates annually between x-ray diffraction and x-ray fluorescence.