Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Jian Cheng Zhang; Styblinski
Titel:	Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781461359357
Editie:	Softcover reprint of the original 1st ed. 1995
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 119.78
Verschijningsdatum:	28-02-1995
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Circuits & components
Geillustreerd:	XVII, 234 p.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	234
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155
Gewicht gr.:	397

 

Inhoud:

Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications.