|
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
|
| Auteur: Cher Ming Tan; Wei Li; Zhenghao Gan; Yuejin Hou |
| ISBN: 9780857293107 |
|
| Prijs: € 107.90 |
| Uitgever: Springer Nature |
| Verschijningsvorm: E-book |
|
Printuitgave Deze titel is ook beschikbaar in print voor: € 134.09
Klik hier voor de gegevens van de printuitgave
|
|
|
|
|
Download
Lees meer
info ebook
|
|
|
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
|
| Auteur: Tan, Cher Ming; Li, Wei |
| ISBN: 9780857293091 |
|
| Prijs: € 134.09 |
| Uitgever: Springer London Ltd |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Hardback |
|
|
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
|
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
|
| Auteur: Tan, Cher Ming; He, Feifei |
| ISBN: 9789814451208 |
|
| Prijs: € 67.04 |
| Uitgever: Springer Verlag, Singapore |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Paperback / softback |
|
|
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
|
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
|
| Auteur: Cher Ming Tan; Feifei He |
| ISBN: 9789814451215 |
|
| Prijs: € 59.94 |
| Uitgever: Springer Nature |
| Verschijningsvorm: E-book |
|
Printuitgave Deze titel is ook beschikbaar in print voor: € 67.04
Klik hier voor de gegevens van de printuitgave
|
|
|
|
|
Download
Lees meer
info ebook
|
|
|
Graphene and VLSI Interconnects
|
| Auteur: Cher-Ming Tan; Udit Narula; Vivek Sangwan |
| ISBN: 9781000470680 |
|
| Prijs: € 76.72 |
| Uitgever: CRC Press |
| Verschijningsvorm: E-book |
|
Printuitgave Deze titel is ook beschikbaar in print voor: € 172.84
Klik hier voor de gegevens van de printuitgave
|
|
|
|
|
Download
Lees meer
info ebook
|
|
| Terug naar boven |
|
Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging
|
| Auteur: Cher Ming Tan; Preetpal Singh |
| ISBN: 9780128224076 |
|
| Prijs: € 209.83 |
| Uitgever: Elsevier S & T |
| Verschijningsvorm: E-book |
|
Printuitgave Deze titel is ook beschikbaar in print voor: € 221.65
Klik hier voor de gegevens van de printuitgave
|
|
|
|
|
Download
Lees meer
info ebook
|
|
|
Simulated Annealing
|
| Auteur: Tan, Cher Ming |
| ISBN: 9789537619077 |
|
| Prijs: € 185.01 |
| Uitgever: In Tech |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Hardback |
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
|
Electromigration In Ulsi Interconnections
|
| Auteur: Tan, Cher Ming |
| ISBN: 9789814273329 |
|
| Prijs: € 145.00 |
| Uitgever: World Scientific Publishing Co |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Hardback |
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
|
Graphene and VLSI Interconnects
|
| Auteur: Tan, Cher-Ming; Narula, Udit |
| ISBN: 9789814877824 |
|
| Prijs: € 172.84 |
| Uitgever: Jenny Stanford Publishing |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Hardback |
|
|
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
|
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
|
| Auteur: Tan, Cher Ming; Li, Wei |
| ISBN: 9781447126416 |
|
| Prijs: € 133.09 |
| Uitgever: Springer London Ltd |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Paperback / softback |
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
|
Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging
|
| Auteur: Tan, Cher Ming |
| ISBN: 9780128224083 |
|
| Prijs: € 221.65 |
| Uitgever: Elsevier Science Publishing Co |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Paperback / softback |
|
|
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
nl
en